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基于AFM的磁盘缺陷检测分析仪

  • 申请号： 申请公布号：
  • 申请日： 申请公布日： 2017-01-17
  • 申请（专利权）人：BI445454754 专利代理机构：
  • 分类号：

专利介绍

磁盘缺陷检测分析仪通过提高磁头以及放大电路的灵敏度，发现纳米级的微小磁盘缺陷，对发现的缺陷进行精确定位，杜绝缺陷的遗失。还能使用光学和原子力显微镜对缺陷类型进行高效和深入的分析，最后通过软件系统输出详细的分析报告。

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